电子技术杂志社

摘要：阐述针对电子器件长时间过载运行引发的性能衰减问题，开展试验研究。明确过载运行的判定标准，总结常见性能衰减现象及其危害。选取广泛应用且敏感的关键器件，搭建试验平台。设定电流、电压及热过载等试验条件，明确性能监测指标与测试方法，并执行标准化试验流程。通过整理原始数据，分析关键性能参数的变化趋势，结合材料科学原理推导性能衰减机制。进一步构建回归模型，识别并确定关键影响因素，为电子器件的优化设计与可靠应用提供数据支持与理论依据。

关键词： 电子器件;过载运行;性能衰减;回归模型;

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN03